一、電子元器件恒溫恒濕試驗(yàn)箱參照標(biāo)準(zhǔn):

1.GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

2.GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度 濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

3. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

4. GJB150.9A-2009               濕熱試驗(yàn)方法 

5.GBT 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量

二、電子元器件恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)：

 1、解析精度：

（1）溫度：0.1℃                  

（2）濕度：0.1%R.H

2、控制精度：

（1）波動(dòng)度：溫度：±0.5℃    濕度：+2/-3%R.H

（2）均勻度：溫度：小于2℃   濕度：+2/-3%R.H

（3）偏差：溫度：±2℃       濕度：+2/-3%R.H

三、恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)系統(tǒng)組成

恒濕恒溫箱是指能同時(shí)施加溫度、濕度應(yīng)力的試驗(yàn)箱。隨著中國(guó)工業(yè)產(chǎn)品研制的需要，近幾年來(lái)，中國(guó)從國(guó)外引進(jìn)了大批試驗(yàn)系統(tǒng)，為中國(guó)工業(yè)產(chǎn)品的研制和定型發(fā)揮了重要作用，但由于其本身的復(fù)雜性，使得試驗(yàn)箱在運(yùn)行中出現(xiàn)了許多問(wèn)題，而且出現(xiàn)了問(wèn)題不能及時(shí)解決，大大延長(zhǎng)了試驗(yàn)周期，影響了產(chǎn)品的研制工作。而產(chǎn)生這些現(xiàn)象的原因是對(duì)綜合試驗(yàn)的工作原理不了解。為此，我們對(duì)試驗(yàn)箱的基本工作原理作出了一些簡(jiǎn)要闡述，并介紹如何對(duì)綜合試驗(yàn)箱試驗(yàn)設(shè)備的故障進(jìn)行分析和判斷。