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產(chǎn)品名稱:

電子元器件鹽霧試驗(yàn)箱

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:電子元器件鹽霧試驗(yàn)箱是人工環(huán)境三防系列中的一種,很多企業(yè)產(chǎn)品需模擬海洋周邊氣候?qū)Ξa(chǎn)品造成的破壞性,所以鹽霧試驗(yàn)機(jī)應(yīng)運(yùn)而行。鹽霧試驗(yàn)分為中性鹽霧和酸性鹽霧兩種,其區(qū)別在于符合的標(biāo)準(zhǔn)與試驗(yàn)方法不同,分別稱“NSS"和“CASS“試驗(yàn)
  • 更新時(shí)間:2024-10-12
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 產(chǎn)品品牌:其他品牌
  • 訪問(wèn)次數(shù):2640
產(chǎn)品概述
品牌其他品牌適用領(lǐng)域冶金
額定電壓220V重量150kg
產(chǎn)地國(guó)產(chǎn)加工定制

一、電子元器件鹽霧試驗(yàn)箱使用條件

環(huán)境溫度:5~+32

周圍不應(yīng)有高濃度粉塵、腐蝕性氣體和易燃易爆氣氛存在。

電壓AC 220V±10%頻率:50Hz±5%;

滿足設(shè)備裝機(jī)容量要求

保證正常使用環(huán)境溫度應(yīng)≤28℃

型號(hào)

     

二、電子元器件鹽霧試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.17-2008鹽霧試驗(yàn)方法

GB/T 2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗(yàn)Ka》

GB/T10125-1997人造氣氛腐蝕試驗(yàn)_鹽霧試驗(yàn)

GB/T10587-2006鹽霧試驗(yàn)箱的技術(shù)條件

GB10593.2-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法

GB/T1765-1979 測(cè)定耐濕熱、耐鹽霧、耐侯性(人工加速)的漆膜制測(cè)試

GB/T1771-2007色漆和清漆耐中性鹽霧性能的測(cè)定

GB/T12967.3-2008鋁及鋁合金陽(yáng)極氧化膜檢測(cè)方法第3部分:銅加速

GB/T5170.8-2008以及等效的IEC、MIL、DIN、ASTM等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

 

三、鹽霧試驗(yàn)機(jī)

GB/T2423.17-2008鹽霧試驗(yàn)方法

GB/T 2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品基本規(guī)程試驗(yàn)Ka》

GB/T10125-1997人造氣氛腐蝕試驗(yàn)_鹽霧試驗(yàn)

GB/T10587-2006鹽霧試驗(yàn)箱的技術(shù)條件

GB10593.2-1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法

GB/T1765-1979 測(cè)定耐濕熱、耐鹽霧、耐侯性(人工加速)的漆膜制測(cè)試

 

 

 四、 鹽霧試驗(yàn)機(jī)參數(shù)指標(biāo)

溫度波動(dòng)度:±0.5℃ 

噴霧量(m1/80cm2/h)1.0~2.0(至少收集16小時(shí),取其平均值)

噴霧壓力:1.00±0.01kgf/cm2

藥水PH值:中性6.0~7.0    酸性3.0~3.1 

噴霧溶液PH值:中性6.5~7.2  酸性3.1~3.3

運(yùn)行時(shí)間:1S  9990H 可任意設(shè)定

噴霧時(shí)間:1S  999H 可任意設(shè)定;間隔周期:1S  999H 可任意設(shè)定

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